32.768 KHzパッチ結晶振動試験器

32.768 KHzパッチ結晶振動試験器

製品概要：

SMDパッケージ（1610/2016/2012/3215/3225など）をテストするために、主なテスト周波数、周期、PPM、段分けと上下限警報、ゲート時間は選択可能で、量産抜取検査と来料スクリーニングに適している。

コアテスト項目と治具の適合

周波数とPPM：公称±10/20/50 ppmなどの公差内にあるかどうかを判断し、バッチ分類スクリーニングを行う。

受動結晶振動：負荷容量の調整が必要（6 pF/7 pF/9 pF/12.5 pFなど）、実際の回路負荷をシミュレーションする。

治具：汎用型用プローブ/弾性片治具、マイクロパッケージは非接触誘導治具を選択し、ピン損傷を避けることを提案する。

主な技術指標：
周波数測定範囲：0.1 Hz-100 MHz
周波数測定感度：25 mv
PPm測定：10 Hz-100 MHz
PPm測定精度：≤1 PPm（1×10-6）
（0.1 PPm、0.01 PPm拡張可能）
中心周波数：0 Hz～100 MHz任意設定
誤差設定範囲設定：±1-±999 PPm任意設定。
ゲート設定：4速、0.01 s、0.1 s、1 sの3速固定、
1速ゲートは1 ms-10 sで設置でき、
1 msごとに1段階を任意に設定します。
周期測定範囲：100 ms-10 s
時間ベース周波数：10 MC
結晶振動安定性：5×10-7/日

32.768 KHzパッチ結晶振動試験器写真は以下の通り