ICP−OES MICSシリーズ全スペクトル直読型誘導結合プラズマ発光分光器

一、製品紹介

ICP-OES MICSシリーズの全スペクトル直読型誘導結合プラズマ発光分光計は、性能が信頼性の高い集積固体無線周波電源、安定した恒温二次元分光システム、科学研究レベルの冷凍オーバーフロー防止CCD検出システムを利用し、国内トップクラスのスペクトル補正技術と結合し、ICP OES MICSの操作性、柔軟性と信頼性を想像以上に発揮し、日常操作とメンテナンスは非常に簡単で、国内の第一線分析実験の操作要求に適し、小型化（Miniatorization）、便利化（Intelligentize）、インテリジェント化（Convenience）のスペクトル計（Spec仕メータ）を実現する。

ICP-OES MICSシリーズの全スペクトル直読型誘導結合プラズマ発光分光計は、広く応用できる

環境保護、食品安全、地質鉱物、冶金、高色金属、希土類、化学工業、｜伍床医薬、石油制昂、半導体、農業研究などの各分野。異なる物質中の定数、微量、痩せ量元素の含有量を測定するために用いられ、サンプル中の元素の定性、半定量及び正確な定量分析に用いられ、検出限界は10億分の1級に達することができる。

二、性能指標

検出器：

高効率半導体冷凍のCCD固体検出器は、分光計の波長範囲内に連続画素を有し、波長を任意に選択でき、天然のオーバーフロー防止機能設計を有する。

検出ユニット：300000以上の検出ユニット、読み取り速度≧2 MHz。

ピクセル解像度：≦0.003 nm。

検出器冷凍システム：最低の検出器暗電流を得るために、高効率三段半導体冷凍を採用する。

動作温度：≤-45℃、動作温度に到達する時間：<3分。

光学系：恒温駆動型中段分光システム。

モノクロメータ：中階段格子とプリズム二次元分散システム、高エネルギー、計器テストの安定性を保証するために、格子とプリズムなどの内光路部品の位置は固定して動かず、分光計の全波長範囲内で一回露光して同時にすべての元素を測定する。

光室：精密光室付き定温38℃±0.1℃で、アルゴンガス或いは窒素ガスを用いて光室パージを行い、＜200 nmスペクトル線時の駆動量＜3 L/minを測定することができる。

波長範囲：167-1000 nm、全波長カバー。

光学分解能（FHW）：As 189.042 nm半値幅＜0.007 nm、Ca 393.366 nm半値幅＜0.017 nm、Ba 614.172半値幅＜0.024 nm、K 766.490 nm半値幅＜0.035 nmは光学系の安定性と最適な光束を保証し、焦点距離は280 mmである。

プラズマ：

プラズマ観察方式：トーチチューブの垂直配置

RF発生器：固体発生器、プラズマコイルはポリテトラフルオロエチレン保護層設計を有し、腐食防止、メンテナンスフリーである。

周波数：27.12 MHZ。

RF電力≧1300 W。

ガス路制御：3路高精度流量制御器を配置し、ICP-OESソフトウェアによって直接制御され、冷却ガス、補助ガス、霧化ガスを含む。精度0.01 L/min。

クリープポンプ：5チャンネル16ローラクリープポンプ。

解析パフォーマンス：

分析速度：≧毎分50元素またはスペクトル線、そして測定スペクトル線ごとの積分時間≧10秒、

サンプル消費量：＜2 ml、70以上の元素を測定する、

スペクトル線の柔軟性：分析元素の任意のスペクトル線に対して定性、半定量と定量分析を行うことができ、分析研究に便利である。

スペクトル線の線形動態範囲を測定する：≧106（Mn 257.6 nmで測定し、相関係数≧0.9996）、証明材料を提供する。

内標準補正：同時の内標準補正、すなわち内標準要素と測定要素は同時に露光しなければならない。

精度：1 ppmまたは10 ppm多元素混合標準溶液を測定し、RSD≦0.5%を10回繰り返し測定した。

安定性：1 ppmまたは10 ppm多元素混合標準溶液を測定し、内標準補正を使用せず、4時間連続で長時間安定性RSD＜1.0%を測定した。