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表面絶縁インピーダンス試験(SIR)

交渉可能更新04/28
モデル
製造者の性質
プロデューサー
製品カテゴリー
原産地

概要

表面絶縁インピーダンス試験(SIR)(Surface IsolationResistanceTest)応用:イオン移動試験評価絶縁抵抗性能劣化試験評価a

製品詳細

表面絶縁インピーダンス試験SIR

(SurfaceIsolation Resistance Test

 

)

適用:

イオン移動度試験評価

絶縁抵抗性能劣化試験評価a.

プリント基板、フラックス、半田などの電子部品b.BGA,CSP等微ピッチ図形(Fine-pitch

Pattern) IC

カプセル化c.PDP

d.

コンデンサ特徴:絶縁抵抗測定範囲1E13 6~

1E

オーム

独立試験電圧と測定電圧をそれぞれ設定

応力電圧出力範囲:

0~500V

モジュール化チャネル設計、独立操作で使用可能

        ソフトウェアにより完全に設定された補正機能