高低温環境測定器

高低温環境測定器性能指標はGB『電工電子製品環境試験設備基本パラメータ検定方法、低温、高温試験設備』の要求に適合する、>試験A：低温試験方法GB 2423.1-89（IEC 68-2-1）、試験B：高温試験方法GB 2423.2-89（IEC 68-2-2）。主に材料の各種環境下、耐熱、耐寒、耐乾燥性能を測定するために用いられる。

高低温環境測定器のパラメータ：

昇温速度：

RT<---->150℃で約35分間（非線形空荷、約3.0℃/分）。

RT<---->-20℃で約45分間（非線形空荷、約1.0℃/分）。

解析精度：0.01℃。

制御精度：≤±0.5℃。

均一度：≦2.0℃

（以下の標準サイズの柳沁以外にも非標準サイズをカスタマイズすることができます）

LQ-GD-80試験箱内寸法（W*D*H）mm：400*400*500。

LQ-GD-150試験箱内寸法（W*D*H）mm：500*500*600。

LQ-GD-225試験箱内寸法（W*D*H）mm：600*500*750。

LQ-GD-408試験箱内寸法（W*D*H）mm：600*800*850。

LQ-GD-800試験箱内寸法（W*D*H）mm：1000*800*1000。

LQ-GD-1000試験箱内寸法（W*D*H）mm：1000*1000*1000。