X蛍光めっき層厚測定器XRF検出装置

EDXTHick 800は、従来の微小で複雑な形態のサンプルの膜厚検出機能を満たすとともに、有害元素検出と軽元素成分分析を満たすことができる、新しいアップライト式多機能自動マイクロゾーンX蛍光膜厚測定器である。自動化されたX/Y/Z軸の3次元システム、デュアルレーザー位置決めと保護システムを搭載し、多地点プログラミングテストが可能で、各種製品の品質管理制御、来料検査、生産プロセス制御に対する測定に広く応用されている。

X蛍光めっき層厚測定器XRF検出装置けいきはいち
01独立したX/Y/Z軸制御システム
02マイクロ焦点X線管
03可変高圧電源
04衝突防止板に衝突防止レーザー保護検出器を加えて機器を二重安全に保護する
05 Fast-SDD検出器
06デュアルレーザ位置決め装置
07標準配置自動切り替え可能なコリメート穴とフィルター

X蛍光めっき層厚測定器XRF検出装置ソフトウェアの利点
1、操作インタフェースのレイアウトを明確化する
シンプルなレイアウト設計により、オペレータはソフトウェアの基本操作を迅速に把握することができます。
2、ショートカットボタンの設計
日常めっき測定用ショートカットキー設計ボタンを追加し、迅速な検出ができ、作業効率を向上させることができる。
3、ハイビジョン可視化ウィンドウ
検出されたサンプルの状態を明確に直感的に観測することができ、オートフォーカス、ショートカットキーを移動することで、ユーザーの観測効果を調整することができる。
4、多チャンネルデジタルスペクトルインタフェース
被検試料の元素スペクトル図を明確化し、組み合わせた解スペクトル技術により、正確に結果を計算することができる。
5、試験結果まとめレイアウト設計
現在のテストデータを迅速に検索し、テストデータをレポート生成し、過去のテストデータを迅速に検索できます。

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